15501138672
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Pi-PMS 移動(dòng)式在線顆粒分析系統(tǒng) 可移動(dòng)的Pi-IPS (In-process System) Pi Sentinel PRO PLP-10激光二極管頭440 Nm M10306-31 量子效率測量儀 VPA 蒸汽壓分析儀 DVS Vacuum 真空吸附儀 通用型條紋相機(jī) C16910-02 水吸附儀 光分布測量系統(tǒng) C9920-11 IPHEMOS-DD倒置光發(fā)射顯微鏡 C10506-05-16 PHEMOS-1000 微光顯微鏡 C11222-16 Quantaurus-QY Plus C13534-11 通用型條紋相機(jī) C16910-04 條紋相機(jī)的皮秒級熒光時(shí)間分辨系統(tǒng) 皮秒級系統(tǒng)2 通用型條紋相機(jī) C16910-05
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技術(shù)文章
202512-26
反氣相色譜儀是一種基于氣相色譜原理但用途相反的分析技術(shù)，主要用于研究固體材料（如聚合物、填料、纖維、藥物粉末、納米材料等）表面的物理化學(xué)性質(zhì)。與傳統(tǒng)氣相色譜用于分離和分析揮發(fā)性組分不同，反氣相色譜將待測固體作為固定相填充于色譜柱中，而使用已知性質(zhì)的揮發(fā)性探針分子（如烷烴、極性溶劑等）作為流動(dòng)相，通過分析探針在固體表面的保留行為，推算出材料的表面能、酸堿性、比表面積、吸附熱力學(xué)參數(shù)及分散/極性相互作用等關(guān)鍵信息。反氣相色譜儀的核心組成部分包括高精度載氣控制系統(tǒng)、程序控溫柱溫箱、...
202512-24
反氣相色譜儀是一種基于氣相色譜原理但用途相反的分析技術(shù)，主要用于研究固體材料（如聚合物、填料、纖維、藥物粉末、納米材料等）表面的物理化學(xué)性質(zhì)。與傳統(tǒng)氣相色譜用于分離和分析揮發(fā)性組分不同，反氣相色譜將待測固體作為固定相填充于色譜柱中，而使用已知性質(zhì)的揮發(fā)性探針分子（如烷烴、極性溶劑等）作為流動(dòng)相，通過分析探針在固體表面的保留行為，推算出材料的表面能、酸堿性、比表面積、吸附熱力學(xué)參數(shù)及分散/極性相互作用等關(guān)鍵信息。反氣相色譜儀的核心組成部分包括高精度載氣控制系統(tǒng)、程序控溫柱溫箱、...
202511-26
動(dòng)態(tài)水蒸氣吸附儀是一種用于精確測量材料在不同濕度條件下對水蒸氣吸附與脫附行為的高精度分析儀器，廣泛應(yīng)用于制藥、食品、化工、電池材料、多孔材料及包裝材料等領(lǐng)域的研發(fā)與質(zhì)量控制。其核心原理是基于動(dòng)態(tài)重量法，通過高靈敏度微量天平實(shí)時(shí)監(jiān)測樣品在程序控濕環(huán)境中因吸濕或失水引起的質(zhì)量變化，從而獲得完整的水蒸氣吸附/脫附等溫線、動(dòng)力學(xué)曲線及平衡含水量等關(guān)鍵參數(shù)。該儀器采用載氣（通常為高純氮?dú)猓y帶經(jīng)精密濕度發(fā)生器調(diào)控的水蒸氣，以穩(wěn)定流速通入樣品腔。濕度控制系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)0%～98%RH（相對濕...
202511-24
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202510-29
SEA表面能分析儀是一款基于反氣相色譜（iGC）技術(shù)原理的高精度科研儀器，專為表征粉末、顆粒、纖維、薄膜及半固態(tài)等材料的表面與體相特性而設(shè)計(jì)。作為iGC技術(shù)的重大突破，SEA通過創(chuàng)新的多面注射系統(tǒng)生成高精度溶劑脈沖，實(shí)現(xiàn)了表面覆蓋范圍的廣域測量，尤其適用于非均勻分布表面的精準(zhǔn)分析。其工作原理是傳統(tǒng)氣相色譜（GC）的逆向過程。將待測固體材料（如粉末、纖維、薄膜）均勻填充至色譜柱中，通過固定載氣流速將恒定濃度的氣體脈沖注入柱內(nèi)，利用火焰電離探測器（FID）檢測氣體在樣品柱中的保留...
202510-27
SEA表面能分析儀是一款基于反氣相色譜（iGC）技術(shù)原理的高精度科研儀器，專為表征粉末、顆粒、纖維、薄膜及半固態(tài)等材料的表面與體相特性而設(shè)計(jì)。作為iGC技術(shù)的重大突破，SEA通過創(chuàng)新的多面注射系統(tǒng)生成高精度溶劑脈沖，實(shí)現(xiàn)了表面覆蓋范圍的廣域測量，尤其適用于非均勻分布表面的精準(zhǔn)分析。其工作原理是傳統(tǒng)氣相色譜（GC）的逆向過程。將待測固體材料（如粉末、纖維、薄膜）均勻填充至色譜柱中，通過固定載氣流速將恒定濃度的氣體脈沖注入柱內(nèi)，利用火焰電離探測器（FID）檢測氣體在樣品柱中的保留...
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